근적외선 분광법을 이용한 콩과 이물질의 판별

서지정보

ㆍ발행기관 : 한국산업식품공학회 ㆍ수록지정보 : 산업식품공학 / 15권 / 2호
ㆍ저자명 : 임종국, 강석원, 이강진, 모창연, 손재용

한국어 초록

본 연구에서는 정상 콩과 이에 혼입되는 이물질을 판별하기 위해 900 nm에서 1800 nm의 파장대역에서 단색화장치가 장착된 근적외선 분광장치를 이용하여 획득된 콩과 이물질의 반사 스펙트럼의 세기를 이용하여 각각의 판별예측모델을 개발하고 그 성능과 판별정확도를 검증해보았다. 정상 콩 60 립과 이물질 60 점을 각각 2 회 반복하여 측정한 총 240 개의 반사스펙트럼에 대해서 모델 개발용인 calibration group으로 168 개를, 나머지 72 개는 개발된 모델을 예측하는 prediction group으로 나누어 사용하였다. 획득된 스펙트럼은 광원의 불안정함, 시료의 크기와 형태에서 기인되는 여러 변이들을 최소화하기 위해 다양한 수학적인 전처리를 적용하였으며 판별예측모델의 개발을 위해 PLS-DA와 SIMCA 방법을 사용하여 모델의 예측 성능과 판별율을 검토하였다.
PLS-DA에서 모델 개발에 사용된 84 개의 정상 콩 스펙트럼 CLASS I은 적용된 모든 전처리에서 100%의 판별율을 보여주었으며 이물질 스펙트럼 CLASS II에서도 SNV 전처리를 제외하고는 모두 100% 이물질로 판별하여 분류하였다. 개발된 PLS-DA의 모델에 대한 prediction group의 검증에 있어서는 평균값 정규화 전처리 방법이 정상 콩과 이물질에서 100% 판별율을 보여주었다.
SIMCA를 이용한 이물질 판별예측모델 개발은 PLS-DA와 비교할 때 상대적으로 저조한 판별율 결과를 나타냈으며 최대값 정규화와 일정 범위값 정규화의 전처리 방법을 적용한 모델이 평균 판별율 94.4%로 다소 양호한 결과를 보여주었다.
따라서 콩에 혼입되어 있는 이물질을 판별하는 시스템을 개발하는 데 있어서 근적외선 분광장치를 이용하여 획득한 반사도 스펙트럼은 PLS-DA로 판별예측모델을 개발하고 최적의 전처리 방법을 적용한다면 콩과 이물질의 선별시에 보다 나은 판별율을 얻을 수 있을 것이다.

영어 초록

The objective of this research was to classify intact soybeans and foreign objects using near-infrared (NIR) spectroscopy. Intact soybeans and foreign objects were scanned using a NIR spectrometer equipped with scanning monochromator. NIR spectra of intact soybeans and foreign objects in the wavelength range from 900 to 1800 nm were collected. The classification of intact soybeans and foreign objects were conducted by using partial least-square discriminant analysis (PLS-DA) and soft independent modelling of class analogy (SIMCA) multivariate methods. Various types of data pretreatments were tested to develop the classification models. Intact soybeans and foreign objects were successfully classified by the PLS-DA prediction model with mean normalization pretreatment. These results showed the potential of NIR spectroscopy combined with multivariate analysis as a method for classifying intact soybeans and foreign objects.

참고 자료

없음