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분자선에피택시성장법으로 성장한 AlAS/GaAs 에피택셜층의 특성

(주)코리아스칼라
최초 등록일
2016.04.02
최종 저작일
1997.12
6페이지/파일확장자 어도비 PDF
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서지정보

발행기관 : 한국재료학회 수록지정보 : 한국재료학회지 / 7권 / 12호
저자명 : 노동완, 김경옥, 이해권

한국어 초록

본 연구에서는 분자선 에피택시 방법으로 비대칭 AIAs/GaAs(001)이중 장벽, 삼중장벽구조를 성장한 수 이를 이용하여 2단자 소자를 제작하여 전기적 특성을 분석하였다. 에피층은 쌍결정 X-ray회절 분석과 단면투과 전자현미경을 이용하여 결정성 및 격자 정합성을 확인하였다. 전기적 성능을 보다 향상시키기 위해 n-GaAs에 대한 오믹 접촉등의 소자 제작 공정을 최적화하였다. 삼중장벽 구조를 이용하여 제작한 소자의 전기적 특성 연구 결과 두개의 주요 공진 터널링 전류 피크 사이에 X-valley에 의한 구조를 확인할 수 있었으며, 이중 장벽구조에 제2의 양자우물 구조를 첨가함으로써 낮은 전압위치에서 전류 피크가 향상하는 결과를 얻었다.

참고 자료

없음

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