AFM정의, 특징

소개글

AFM정의, 특징

목차

1. AFM이란?
2. AFM으로 할 수 있는 것은?
3. AFM의 특징

본문내용

1. AFM이란?
원자간력 현미경 (Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. 이름대로, 실험시료와 탐침의 원자 사이에 작용하는 힘을 검출하여 이미지를 얻는다.
중앙의 받침대에 시료를 놓고, 그 위에 그려져 있는 것이 cantilever 이다. 받침대를 X-Y축방 향으로 이동하면서 Cantilever에 레이저를 쏘여서 반사광의 변화에 대하여 좌측의 Feedback 용 회로를 이용하여 받침대를 Z축 방향으로 상하 이동시킨다. X-Y-Z의 방향의 움직임이 관찰상이 되는 것이다. 원자나 고체의 표면을 관찰하는데 사용되는 가장 보편적인 원자 현미경이다. AFM은 탐칩(Tip)으로 시료표면을 스캐닝 하여 시료표면의 형태를 관찰하는 표면분석 장비이다. 다시 말하자면 장님이 물체를 판별할 때 지팡이로 그 물체에 가까이 가서 판별하는 것처럼 표면에 가까이 가져간 팁(Tip)의 변화되는 정도로 그 물체의 표면의 모양을 알아낸다고 생각하면 쉽게 이해할 수 있다.
AFM은 일반적으로 두 가지 방법으로 구분하기도 한다. Non-contact Mode, Contact Mode로 나뉜다. Mode의 구분은 Sample(시료)과 Tip(탐침)간의 접촉유뮤로 결정된다. 통상, Non-contact Mode는 시료와 탐침의 원자 사이의 인력(Van der waals Force)을 검출하고 Contact Mode는 원자사이의 척력(repulsive)을 검출한다.

참고 자료

없음