Scanning Tunneling Microscope 예비보고서

소개글

Scanning Tunneling Microscope 예비보고서

목차

1. 서론

2. STM의 원리

3. Tunneling Effect

4. STM의 구조

5. 실험 방법

6. 참고 문헌

본문내용

Scanning Tunneling
Microscope (STM)
○○○ 교수
□□□□ and ○○○ Laboratory, Department of ○○○, □□□ University
△△△
Department of ○○○, □□□ University
STM은 원자단위로 물질 표면의 실 공간 영상을 재현한 첫 번째 기기이다. 이때 등 전하밀도를 측정하기 위하여 양자 역학적인 터널링 현상을 이용한다. 이러한 터널링 현상은 1920년부터 알려져 왔으나 기술적인 어려움으로 인하여 1981년에야 비로소 이를 이용한 현미경의 개발이 가능하게 되었다. STM 기기의 발명으로 시료의 표면을 관찰하고 기하학적인 구조뿐만 아니라 전기적 특성의 측정도 가능하게 되었다. 실험을 통하여 터널링 효과에 대해서 고찰해보고 눈으로 관찰할 수 없는 원자 세계에 한 걸음 다가간 기술에 대해서 배워보고자 한다.
STM : 1981년 아이비엠연구소(쥬리히)의 비니히 게르트(Gerd Binnig), 로레르 하인리히(Heinrich Rohrer) 발명.
서 론
STM 기기는 도전체 표면에 가느다란 텅스텐이나 백금선을 부식 시켜 그 끝에 원자 몇 개만 있게 한 탐침(STM TIP)을 원자 한 두개크기 정도의 거리 이내로 접근시키고 양단간에 약간의 전압을 걸면 터널링 현상에 의한 전류가 발생한다.

참고 자료

[1] STM Manual, Central Laboratory Kangwon National University
[2] Wikipedia - Scanning Tunneling Microscope
[3] 구자용, KRISS 소재평가센터, 표준연구원 측정기술