스트레인 게이지(1)
- 최초 등록일
- 2012.04.07
- 최종 저작일
- 2011.10
- 7페이지/ 한컴오피스
- 가격 1,500원
소개글
기계공학부 실험 레포트이며 고찰 아주 신중히 고민하고 쓴 레포트입니다.
목차
실험 1. 휘스톤 브리지 실험
- 실험목적
실험 2. 스트레인 게이지
- 실험목적
- 실험 결과/분석
- 고찰
본문내용
여러분은 스트레인 게이지의 저항이 가해진 스트레인에 따라서만 변화하기를 기대할 것입니다. 그러나 스트레인 게이지를 포함한 모든 표본 물질은 온도의 변화에 반응합니다. 그래서 스트레인 게이지 제조업체들은 게이지의 물질을 처리하여 열 팽창을 보상함으로써 온도에 대한 민감도를 최소화 합니다. 보상된 게이지가 열 민감도를 감소시킬 수는 있지만 완벽하게 제거하지는 않습니다.
브리지에서 두 개의 스트레인 게이지를 사용하면 온도 효과를 더욱 최소화할 수 있습니다. 한 예로 그림 5는 활성화된 게이지 (RG+ DR)와 가로로 놓여진 다른 게이지 구성입니다. 따라서 스트레인은 두 번째 게이지에 영향을 거의 주지 않습니다. 이 게이지는 더미 게이지라고 부릅니다. 그러나, 모든 온도 변화는 같은 방식으로 두 개의 게이지에 영향을 줍니다. 온도 변화는 두 개의 게이지에 동일하게 적용되므로, 저항의 비율은 변하지 않고 전압 (VO)도 변하지 않으며 온도 변화의 영향도 최소화됩니다.
하프 브리지 (Half-bridge) 구성에서 두 개의 게이지를 활성화시켜 스트레인에 대한 브리지의 민감도를 두 배로 증가시킬 수 있습니다. 예를 들어, 그림 6은 하나의 브리지가 응력 (RG + DR), 다른 하나는 응압 (RG + DR)에 있는 어플리케이션입니다. 하프 브리지 구성 (그림 6 다이어그램 참조)은 선형이며 쿼터 브리지 회로 출력을 약 두 배로 만드는 출력 전압을 생산합니다.
참고 자료
없음