AFM 실험 보고서

소개글

원자력 현미경인 AFM을 이용하여 CD-ROM의 표면의 홈의 개수를 관찰하는 실험의 보고서 로서 AFM의 원리와 실험 결과를 정리

목차

1.Introduction & Theoretical background
2.Chemicals and Apparatus
3.Procedure on manual, Actual procedure during the experiment(-)
4.Data & Results
5.Result Analysis and Discussion

본문내용

1.Introduction & Theoretical background
AFM (Atomic Force Microscopy)는 광학현미경과 전자현미경의 뒤를 잇는 제3세대 현미경으로, 원자 지름의 수 십분의 1까지 측정할 수 있으며 진공에서만 관찰이 가능한 전자현미경과 달리 대기 중에서도 사용할 수 있다는 점, 또 시료의 형상을 수평·수직 방향 모두 정확하게 측정할 수 있고, 시료의 물리적 성질과 전기적 성질까지도 알아낼 수 있다는 장점을 가지고 있다. AFM의 작동 원리는 탐침과 시료 사이의 거리에 따른 힘의 변화로 시료 표면의 요철에 따라 탐침이 붙은 용수철 역할을 하는 캔틸레버(cantilever) 가 휘게 되는데, 이 동작을 레이저를 이용하여 관찰함으로서 컴퓨터로 시료 표면을 화상화하여 시료 표면의 모양을 가시화상으로 재현하는 원리이다. 이번 실험에서는 이러한 AFM을 이용하여 CD의 표면을 관찰하는 실험을 통해, CD의 전기적 신호를 알 수 있는 홈의 개수 및 깊이 등을 구할 것이다.
그림 1. AFM system의 구조와 원리 그림 2. 시료와 탐침의 거리에 따른 힘의 변화
2.Chemicals and Apparatus
Apparatus AFM system
Chemicals 이번 실험에는 별다른 화학시료 및 시약을 사용하지 않았다.

참고 자료

없음