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서미스터 회로구성 및 LABVIEW 결과레포트

*성*
최초 등록일
2015.11.25
최종 저작일
2015.05
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목차

1. 실험목적
2. 서미스터
3. 실험과정 및 결과
4. 고찰

본문내용

- 서미스터
온도에 따라 전기저항치가 달라지는 반도체 회로소자 를 이용한 온도측정기
- 원리
서미스터의 저항이 온도 변화에 따라 선형으로 변화한다고 가정한다면 저항과 온도와의 관계는 다음 식과 같이 나타낼 수 있다.
이 때,
=저항의 변화량
=온도의 변화량
k =1차 저항온도계수이다.
- 종류
NTC : 온도가 올라가면 저항치 감소
PTC : 온도가 올라가면 저항치 증가
CTC : 어떤 온도에서 저항치 급감소

<중 략>

5.고찰
이번 주 실험은 온도에 따라 저항이 변하는 소자인 NTC 서미스터를 사용하여 온도를 A/D변환기를 거쳐 컴퓨터에 의해 측정하여 온도라는 물리량에 대한 디지털계측을 하는 실험이었다. Lab view 구성함에 있어서 먼저 while 구문을 생성하고 배열을 통해 0번과 1번 각 포트에서 전압 값을 꺼내고 그 전압차를 구한다.

참고 자료

없음
*성*
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