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광학현미경과 주사현미경 원리조사 (A+자료)

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최초 등록일
2016.05.10
최종 저작일
2015.10
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소개글

현미경의 종류에는 광학 현미경과 전자 현미경이 있으며, 구동방식에 따라서 시편으로부터 얻어낼 수 있는 정보가 다르다. 이번 레포트에서는 광학 현미경과 주사 전자 현미경의 원리와 현미경들을 통해서 얻어 낼 수 있는 정보에 대해서 알아보려고 한다.

목차

1. 서론

2. 현미경
➀ 기본개념
➁ 분해능

3. 광학 현미경(Optical Microscope)
➀ 구조
➁ 원리
1) 배율의 원리
2) 분해능의 원리

4. 주사 전자 현미경(Scanning Electron Microscope)
➀ 구조
1) 전자총 (Electron gun)
2) 자기렌즈
3) 검출기 (Detector)6
➁ 원리
1) 전자빔의 분해능
2) 전자의 검출

5. 토의 및 결론
➀ 수차
➁ 광학현미경 vs 주사전자현미경

6. 출처 및 참고

본문내용

현미경은 재료공학을 전공하는 사람에게는 필수적으로 다룰 줄 알아야 하는 도구이다. 왜냐하면 재료공학은 재료의 마이크로미터 이하의 스케일을 다루는 학문이고, 각종 현미경과 같은 관측 도구가 없으면 제대로 된 연구가 이루어지지 않기 때문이다. 그렇기 때문에 이번학기 재료공학 실험에서도 간단하지만 꼭 다루고 분석할 줄 알아야하는 광학 현미경(OM, Optical Microscope)과 주사전자현미경(SEM,Scanning Electron Microscope)을 사용해서 AZ91합금의 표면 관찰해 보았다.
현미경의 종류에는 광학 현미경과 전자 현미경이 있으며, 구동방식에 따라서 시편으로부터 얻어낼 수 있는 정보가 다르다. 이번 레포트에서는 광학 현미경과 주사 전자 현미경의 원리와 현미경들을 통해서 얻어 낼 수 있는 정보에 대해서 알아보려고 한다.

<중 략>

광학 현미경에는 임상 현미경, 편광 현미경, 형광 현미경 등 여러 종류가 있지만, 재료공학을 전공하면서 사용하게 되는 광학 현미경은 금속 현미경으로 반사된 빛을 이용하여 재료의 표면을 관찰 및 분석하는 용도로 사용된다. 재료공학을 전공하면서 사용하게 될 금속 현미경의 구조 및 작동 원리는 다음과 같다.

<중 략>

입사된 전자가 시편과 충돌하였을 때 이차전지(SE, Secondary Electron), 후방산란전자(BSE, Back Scattered Electron), Auger Electron, 특성 X-선(Energy Dispersive X-ray Spectroscope) 등 다양한 정보가 방출된다. 주사전자현미경은 주로 이차전자(SE), 후방산란인자(BSE), 특성 X-선을 선별하여 유용한 정보를 얻는데 이용된다. 주사전자현미경에서 주로 사용되는 3가지 검출기 종류와 특성은 다음과 같다.

<중 략>

수차는 상을 맺을 때 한 점에서 나온 빛이 광학계를 통한 다음 한 점에 모이지 않고 영상이 빛깔이 있어 보이거나 일그러지는 현상을 말한다. 이러한 수차는 현미경의 사용에 있어서 분해능을 저하시키는 요인으로 작용하며 보정되어야할 인자들이다. 현미경의 사용에 있어 방해요소가 되는 수차들은 다음과 같다.

참고 자료

금속 현미경 정의(http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=732498&cid=42325&categoryId=42325)
광학 현미경의 원리(http://navercast.naver.com/contents.nhn?rid=102&contents_id=3139)
주사전자현미경 개념(http://offlineid.blog.me/120108644815)
주사전자현미경 구조 (http://blog.naver.com/00811022/20209383835)
주사전자현미경 자기렌즈 (http://blog.daum.net/_blog/BlogTypeView.do?blogid=0UZYW&articleno=3&_bloghome_menu=recenttext)
주사전자현미경 검출기 (http://blog.naver.com/sec2157341/90188999245)
수차 (https://ko.wikipedia.org/wiki/%EA%B4%91%ED%95%99_%EC%88%98%EC%B0%A8)

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