Surface characterization by AFM

소개글

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목차

1. 실험제목

2. 실험일자

3. 실험목적

4. 실험원리
A. 현미경의 종류
B. SPM(Scanning Probe Microscope)
C. STM(Scanning Tunneling Microscope)
D. AFM(Atom Force MicroScope)

5. 참고문헌

본문내용

A. 현미경의 종류
1) 광학현미경(LM, Light Microscope): 유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.

2) 전자현미경(EM, Electron Microscope): 유리렌즈 대신에 자계렌즈(마그네틱 렌즈)를 이용하고, 광원은 가시광선 대신에 파장이 짧은 전자를 이용하였다. 따라서 전자현미경에서는 컬러상을 관찰할 수 없고 흑백상을 관찰하게 된다.

3) 주사프로브현미경(SPM, Scanning Probe Microscope): AFM 팁이나 광섬유 끝을 변형 시킨 프로브를 사용하여 주사(Scanning)하는 현미경이다. 이때 프로브는 연구하려는 물체의 표면과 상호작용을 함으로써, 표면상의 아주 작은 범위의 물리적, 전기적, 자기적 특성 등을 이해할 수 있다.

B. SPM(Scanning Probe Microscope) 1) SPM의 특징 및 장점
- SPM은 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경으로 STM과 AFM을 통칭하는 용어이다.

참고 자료

“AFM 분석예”, http://www.polymer.co.kr/04_equipment/equip_6.jsp?pageNum=4&subNum=6
“SPM 연구.”, http://nano.donga.ac.kr/rea_06.htm
심종엽, 권대갑, “원자현미경(AFM)의 진동해석.”, 한국소음진동공학회 추계학술대회논문집, 2000, p643-648.
“현미경 종류.”, http://ksemt.kr/down/mickind.htm
홍재완, “주사탐침 현미경의 원리와 응용”, KBCS, p1-4