[측정기기] 주사전자현미경

목차

주사전자현미경 개요
주사전자현미경의 원리
주사전자현미경의 구조
주사전자현미경의 배율 및 분해능

본문내용

1930년대 말에 독일의 막스 크롤(Max Knoll)에 의해 주사전자현미경의 원리가 처음 소개되었으나 상품화한 것은 1960년대에 영국과 일본에서 제작되었다.
주사전자현미경은 가속된 전자를 전자렌즈로 수렴시켜 빠른 속도로 표본 위를 주사(scanning)함으로 요철(凹凸)부위에서 발생하는 2차전자를 검출하여 이를 증폭함으로 심도(深度,depth)있는 상(image)을 관찰할 수 있는 것이 특징이다.
즉, 표본의 미세구조를 해상도가 높은 입체구조(3-D)를 관찰할 수 있다.
참고: 흑백의 화상(image)만 볼 수 있다.

사용목적

자연상태에서 생물체의 미세구조를 가능한 형태학적 변화가 없은 상태로 입체적 구조(3-D structure)를 관찰한다.

1. 저진공 주사전자현미경(Low vacuum/ environmental/ natural SEM)을 사용하는 경우.

장점
1) 표본제작 과정없이 쉽게 관찰할 수 있다.
2) 살아 있는 생물체를 단기간 관찰할 수 있다.
3) 경제적이다.

참고 자료

없음