반도체 다이오드 특성 예비레포트

소개글

2007년도에실험한거구요~
반도체 다이오드 특성 예비레포트있습니다ㅋ

목차

1.실험제목
2.실험일시
3.실험목적
4.실험기구
5.실험이론
6.실험방법

본문내용

실험 예비 레포트
1. 실험제목 : ④반도체 다이오드 특성(반도체 물성과 소자참조)
2. 실험일시 : 2007. 10. 2
3. 실험목적 : 이번 실험은 p-n접합 반도체 다이오드의 전압 - 전류 특성 곡선을 측정하고, 정류작용의 원리를 알아보는 실험이다.
4. 실험기구 : 가변 직류전원장치, 만능기판, 멀티미터(전류계 측정), 다이오드, LED
5. 실험이론 :
★멀티미터 사용법.
전압, 전류 및 저항 등을 하나의 계기로 측정할 수 있는 종합기능을 가진 계기 중에서 가장 간단한 것이 멀티미터로 여러 가지의 전기량을 넓은 범위에 걸쳐서 선택 스위치에 의하여 손쉽게 측정할 수 있다. 이 계기는 전압, 저항 및 mA급의 소전류 측정의 종합 계기란 뜻에서 VOM(Volt-Ohm-Millianmeter)이라고도 하며, 최근에는 10A의 직류 전류, 20MΩ 정도까지의 저항을 측정할 수 있도록 제작하고, 이들은 각각 3~5개의 측정 범위로 구분되어 있다.
멀티미터는 최대 눈금이 50~100μA의 직류전류계와 여러 개의 분류기, 분압기 그리고 기능 선택 스위치 등으로 구성되며, 저항을 측정할 때는 계기 내부에 들어있는 건전지가 사용된다.
일반적으로 멀티미터는 직류전압, 교류전압, 직류전류 및 저항 측정의 네가지 기본 기능의 회로로 구성되며, 이들은 영구자석을 사용하는 가동코일형 직류전류계. 배율기와 분유기, 다이오드, 전지 및 전환 스위치 등으로 구성된다. 전자 회로용 멀티미터에는 풀 스케일이 50μA 정도의 고감도 PMMC 계기를 사용한다. 멀티미터를 사용하기 이전에 PMMC 계기의 지침이 스케일의 왼쪽 끝인 0을 지시하는지를 확인해야한다.
멀티미터로 직류 전압을 측정할 할 경우의 내부 회로는 배율기로 구성되며, 측정 범위는 2.5-10-50-250-500-1000V 의 것이 대부분이다. 전압계 감도는 전압계의 내부 저항의 크리를 대변하는 것으로서 이 값이 클수록 피측정 회로에 대한 영향, 즉 부하 효과를 덜 두면서 전압을 측정할 수 있다.

참고 자료

없음