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연관검색어

"AFM" 검색결과 61-80 / 636건

  • 파워포인트파일 [재료공학] STM과 AFM의 원리와 응용분야
    TAPPING MODE AFM에 대하여 Sample과 probe 사이의 거리와 작용하는 힘 AFM에 대하여 AFM 측정 모드별 비교 AFM sample 4) STM과 AFM의 응용분야 ... AFM에 대하여 1. ... NON-CONTACT AFM AFM의 측정방법 3가지 AFM에 대하여 Contact mode 와 Non-contact mode의 단점을 보완 캔틸레버가 공진주파수로 샘플표면을 두드림
    리포트 | 21페이지 | 30,000원 | 등록일 2007.05.21 | 수정일 2019.06.18
  • 한글파일 [공학 > 화학 > 고분자 > 나노]AFM
    Intermittent-contact AFM은 NC-AFM과 비슷하지만 IC-AFM의 경우 진동하는 캔틸 레버의 탐침이 시료 표면에 거의 닿을 수 있도록 시료에 접근한다. ... 생물학에서의 대표적인 AFM 의 응용사례로는 메신저 RNA 전사과정을 포착한 AFM 영화를 들 수 있다. ... 이런 원자간 인력을 이용해서 표면 형상을 측정하는 방법을 non-contact mode AFM(NC-AFM)이라고 한다.
    리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.11.13
  • 파워포인트파일 고분자의 표면과 계면 과 분석기기(SEM,TEM,STM,AFM)
    AFM구조도 분석기기 정리 광학현미경 전자현미경 원자현미경 광원: 빛, 광학렌즈를 사용, 표면을 통과한 빛이 대물렌즈로 실상을 맺고 접안렌즈로 재확대된 상 관찰 최대배율 1000배 ... 분석 2) 화학결합의 형태 인지 Microscope Electron Microscope Scanning Probe Microscope Atomic Force MicroScope(AFM ... 주사형터널현미경의 구조 Atomic Force (AFM) 시료에 도전성이 없을경우 사용 미세한 탐침(캔틸레버)과 시료의 상작용(van der waals force)을 이용하여 표면현상
    리포트 | 28페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.03
  • 한글파일 Plasma (RF Sputtering) / Working pressure / Oxygen partial pressure / XRD / SEM / AFM / TEM
    AFM A. Theory (simple) - AFM이란 Atomic Force Microscope의 약자로, STM과 비슷하지만 STM의 문제점을 대부분 해결한 장치이다.
    리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.12.23
  • 한글파일 [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)
    특징은 연질의 시료에 흠을 주지 않고 동시에 수직 해상도를 최고로 할 수 있는 AFM모드 중 가장 선명한 영상화가 가능한 모드이다. 4) AFM 측정 모드별 장단점 비교 AFM에서 ... AFM(Scanning Force MicroScope)의 원리 "AFM"에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의 ... STM과 AFM 원자는 그 크기(0.1∼0.5nm)가 너무 작아서 어떠한 기존의 현미경으로도 볼 수 없다는 기존의 통념이 SPM의 등장으로 바뀌게 되었다.
    리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.01.21
  • 한글파일 [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)
    AFM의 구조도. ... 특징은 연질의 시료에 흠을 주지 않고 동시에 수직 해상도를 최고로 할 수 있는 AFM모드 중 가장 선명한 영상화가 가능한 모드이다. 4) AFM 측정 모드별 장단점 비교 AFM에서 ... AFM(Scanning Force MicroScope)의 원리 "AFM"에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로 된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의
    리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.27
  • 파워포인트파일 SPM(Scanning Probe Microscope) & AFM (Atomic Force Microscope)의 장치 비교 및 각각의 역사, 이론, 원리
    역사 STM 과 AFM 장치 비교 - 현미경과 AFM - STM 과 AFM을 통칭하여 부르는 용어 STM : 최초로 개발된 주사탐침 현미경 • 탐침 : 도전체 표면에 가느다란 텅스텐이나 ... Advantages and Disadvantage of Contact mode AFM, Tapping Mode AFM, and Non-contact Mode AFM 2. ... 개발 • 1994 : Fluid Tapping Mode 개발 • 2003 : TR-Mode 개발 SPM (주사탐침 현미경)의 역사 STM과 AFM 비교 여러 현미경과 AFM 과 비교
    리포트 | 35페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.03.24
  • 워드파일 [정보저장공학, AFM]탐침형 탄소나노튜브의 원리와 응용
    이러한 현상은 기존 탐침을 바탕으로 제작된 일반적인 AFM controller를 적용하는 AFM측정에서는 문제로 대두된다. 2.6 팁과 시료간의 상호력(이론) AFM마이크로 캔틸레버 ... 본론 다음은 AFM 마이크로 캔틸레버의 팁의 비선형(Nonlinear) 동특성을 파악하기 위한 실제 실험에 사용된 탄소나노튜브 탐침이다. 2.1 정적 힘- 거리관계 AFM에서 팁-시료의 ... 탐침과는 상당히 다른 비선형 거동을 나타냄을 알 수 있고 이러한 비선형 불안정현상은 AFM측정을 통하여 CNT좌굴이 일어날 것으로 예상되는 진폭기준점에서 AFM 스캐닝 이미지도 불안정하다는
    리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2004.12.06
  • 한글파일 (특집) 포토공정 심화 정리19편. Scanning Probe Lithography
    * AFM 동작 Mode ? ... - 펜 촉에 잉크를 찍듯이 Lithography를 하는 방법 - AFM 기반 : AFM Tip을 펜으로 사용, 회로의 검사와 문제가 발생한 부분의 수리도 가능 ... * AFM 장단점 ? ? ? ③ Dip-Pen Nanolithography ?
    리포트 | 3페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.08.16
  • 워드파일 원자현미경 (Atomic Force Microscopy)
    AFM이란 원자현미경 (AFM) 은 1986년에 최초로 고안된 이래 원자 스케일에서의 3차원 측정에 도입되어온 분석 장치이다. ... Atomic Force Microscopy (AFM) AFM은 STM과 유사한 방식으로 사용되나 하전 되지 않은 물질도 이용할 수 있다는 장점을 가지고 있다. ... 캔틸레버와 탐침은 시료표면에 적용되는 힘이나 AFM의 lateral resolution을 결정하고, silicon, silicon nitride로 만든다. 2) AFM의 Modes
    리포트 | 18페이지 | 4,000원 | 등록일 2020.06.26
  • 한글파일 [고분자공학실험및설계] 전체 실험 레포트 - 4가지
    원자간력현미경 (AFM) Ⅵ. PL & PLQY Ⅰ. ... 원자간력현미경 (AFM) Purpose 형성된 박막( Al, MoO _{3}, PEDOT:PSS)에 대하여 AFM 비접촉모드을 통하여 roughness 확인 및 비교 Experiment ... - 원자간력현미경 (AFM, Atomic Force Microscope) ; 표면 거칠기(RMS, Rq) 측정 - Al, MoO _{3} : 증착 / PEDOT:PSS : 오존처리
    리포트 | 12페이지 | 2,500원 | 등록일 2021.12.21
  • 한글파일 숭실대 다결정 박막 코팅 및 분석 결과보고서
    시약 및 기기 -시약 CsPbBr3 전구체 용액 -기기 AFM, Spin coating 5. ... 결과 실험 결과 CsPbBr3가 코팅된 박막이 형성 되었고, 위 사진은 이를 AFM으로 측정한 결과이다. ... 실험 목적 : 다결정이 무엇인지 이해한다 AFM, Spin-coating 기계 사용법을 익힌다. 단결정과 다결정의 구조를 분석하여 차이를 안다. 4.
    리포트 | 4페이지 | 2,500원 | 등록일 2022.10.05
  • 한글파일 숭실대 다결정 박막 코팅 및 분석 예비레포트
    Atomic Force Microscopy(AFM) 원자힘현미경(atomic force microscopy, AFM)은 시료 표면의 3차원 형상을 측정하는 장비와 그 기술을 말하는
    리포트 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.10.05
  • 파일확장자 [신소재공정실험]저차원물질의 기계적 박리 및 라만스펙트럼 분석
    그래핀/h-BN 의 AFM(Atomic Force Microscopy)을 통한 두께측정(1) Graphene 의 두께 측정 AFM 을 통해 박리한 그래핀의 두께를 측정하였다. ... AFM 의 경우, 기판의 수직방향으로 0.1nm 정도의 분해능을 가져 0.34nm 에 불과한 그래핀 한 층의 두께를 측정할 수 있다.
    리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.07.01 | 수정일 2021.06.05
  • 워드파일 2020 바이오 나노 소재 결과보고서, 인하대학교 A+
    샘플의 투과율을 측정하고 각각 비교한다. 2) AFM기기 1. 샘플을 가지런하게 놓는다. 2. ... 결론 AFM기기를 통하여 표면의 morphology를 가시화하여 볼 수 있으며, 층이 쌓일수록 더욱 porous해진다는 것을 알 수 있었다. ... ________________________________________ 서론(실험개요,목적,필요성 등을 서술) PS기판에 TOCN과 PDDA를 LBL assembly하였을 때, AFM기기
    리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.01.02
  • 한글파일 [고분자블렌드] 시료의 Morphology를 관찰할 수 있는 방법들
    하지만, 직접적 현미경(AFM, Atomic Force Microscopy)에 대하여 제시해보겠다. ... (TEM, Transmission Electron Microscopy) ③ 주사 전자 현미경 (SEM, Scanning Electron Microscopy) ④ 원자력 현미경 (AFM ... 전자 현미경(TEM, Transmission Electron Microscopy), 주사 전자 현미경(SEM, Scanning Electron Microscopy), 원자력 현미경(AFM
    리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.12.21
  • 워드파일 화공계측실험 Pre-Report (9)-Atomic Force Microscope
    AFM 이미지를 얻는 방법 AFM이 이미지를 얻어내는 방법은 다음과 같다. ... 접촉 모드로 AFM을 실행 하고 샘플 표면의 마찰력을 직접 측정해 본다. 이론 및 배경지식 AFM이란? ... STM과 AFM의 차이 STM도 원자 수준의 분해능을 보여주지만 AFM과는 다른 현미경이다.
    리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.06.12
  • 워드파일 Atomic Force Microscope 예비보고서
    실험 목적: SPM(Scanning Probe Microscope)의 종류인 AFM(Atomic Force Microscope)을 이용하여 시료의 물성을 조사해보고 AFM과 STM을 ... 이러한 STM의 단점을 보안한 것이 AFM인데, AFM은 전기가 통하지 않는 부도체뿐만 아니라 도체, 반도체 모두 측정할 수 있으며, 대기 중에서도 시료의 측정이 가능하다. ... Atomic Force Microscope (AFM) AFM이란 나노미터 스케일의 고해상도로 원자, 분자 단위로 구성된 재료의 표면을 관찰하며 다양한 기계적 물성을 알 수 있는 원자현미경이다
    리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.11.21
  • 한글파일 (기출) 나노시스템 과학 중간고사 기출문제
    SPM은 STM, AFM, EFM, SNOM등으로 구성되어 있다. ... -AFM : Atomic Force Microscope로 tip이 지나가면서 tip과 시료간의 상호작용되는 힘을 측정하여 image를 구축한다. ... AFM의 Mode는 세가지로 구성되어 있다. 첫 번째는 contact mode이다. 직접적으로 tip이 시료를 지나가면서 interation force를 측정한다.
    시험자료 | 4페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.09.28
  • 워드파일 화공계측실험Final-Report(9)-Atomic Force Microscope
    접촉 모드로 AFM을 실행 하고 샘플 표면의 마찰력을 직접 측정해 보았습니다. ... AFM의 tip이 주기적으로 sample의 surface를 읽어내는데는 시간이 소요됩니다. ... 기존의 현미경은 빛을 이용해 시료를 시각적으로 관찰 하는 방식이지만 afm은 표면을 느끼면서 시료를 detect합니다.
    리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.06.12
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2024년 06월 03일 월요일
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