"electron probe microanalysis" 검색결과 1-9 / 9건

• 

  EPMA를 이용한 침탄강의 정확하고 신뢰성 있는 탄소농도 측정을 위한 분석조건 최적화

  한국재료학회 권기훈, 박현준, 최병호, 이영국, 문경일

  논문 | 9페이지 | 4,000원 | 등록일 2023.07.03

  다운로드 장바구니
• 

  Physical metallurgy 정리_metal structure, crystal bonding

  Electron probe X-ray microanalysis / Auger electron spectroscopy 2.16 Electron probe X-ray microanalysis ... Plane of optimum focus 에서 선명한 초점이 이루어지며 , depth of focus 에서 유지됨 2.15 Microanalysis of specimens -. ... Analytical methods 2.6 The transmission electron microscope -. 100 ~ 400kV 의 높은 에너지를 가지는 electron 이 얇은

  리포트 | 20페이지 | 1,500원 | 등록일 2009.02.09

  다운로드 장바구니
• 

  대학원_논문_세미나_리뷰_발표(화공,환경,대기,AQI)

  probe X-ray, microanalysis, Aerosol analysis 1. ... Environment 44 (2010) 2287-2293 Key words : Subway particles, Single particle analysis, Low-Z particle electron

  리포트 | 18페이지 | 1,500원 | 등록일 2011.06.01

  다운로드 장바구니
• 

  EDX(EDAX, EDS)에 대한 장비 소개

  근래에 와서는 이 두 가지 장치를 하나로 묶은 개념의 EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)가 사용된다. ... EDX EDX의 구조 EDX의 원리 - 원자의 구조 - 연속 X-Ray Energy Dispersive X-ray microanalysis 보통 EDX 혹은 EDS(Energy Dispersive ... Auger electron, Secondary electron, Scattered electron, Characteristic x-ray등이 발생하며 이 Signal은 전자현미경의

  리포트 | 21페이지 | 2,500원 | 등록일 2010.02.11

  다운로드 장바구니
• 

  전자현미경

  이는 다시 대물렌즈에서 시편 위에 초점을 맺게 되므로 시편은 전자선(Electron Probe)에 의해 면(Square)형태로 주사된다. ... 증폭도를 변화시킴으로써 상의 밝기 및 명암을 조절할 수 있다. ⑷전자 현미경의 부가장치(EDS) EDS (에너지 분산형 X선 측정기: Energy Dispersive X-ray Microanalysis ... 이렇게 미세해진 전자선을 전자 probe라고 부른다.

  리포트 | 17페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.04.05

  다운로드 장바구니
• 

  [전자재료]SEM&XPS에 대하여

  WD↑, RAP↓, M↑ Performance in the SEM modes High Resolution mode 높은 배율로 매우 작은 물체를 관찰하려 할 때 Small size probe ... low magnification mode 관찰 대상물의 크기가 작지 않을 때, 또는 성분 분석할 필요가 있을 때 Low resolution High current Large size probe ... High depth-of-field mode 파단면, 입체 구조물 등 높낮이가 있는 시편을 관찰하려 할 때 Long working distance Low magnification Microanalysis

  리포트 | 41페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.08.07

  다운로드 장바구니
• 

  [재료공학실험]EPMA (전자 탐침 미세 분석기)

  전자 탐침 미세 분석기 (EPMA; Electron Micro Probe Analyzer) ▶EPMA(Electron Probe Micro Analyzer)는 광물학과 암석학, 나아가 ... 이 방법은 앞의 WDS에 비하여 뒤늦게 개발되었으나 짧은 시 간 동안에 시료에서 나오는 모든 X-선을 검출할 수 있기 때문에 보다 보편화된 X-ray Microanalysis법으로 ... 다른 전자현미경처럼 이차전자상 (SEI; Secondary Electron Image)이나 후방산란전자상 (BSEI; Back Scattered Electron Image)를 관찰할

  리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.06.28

  다운로드 장바구니
• 

  [공학기술]SEM & TEM

  실험 제목 : Scanning Electron Microscopy Transmission Electron Microscopy Ⅱ. 실험 날짜 : 2007년 6월 5일 Ⅲ. ... 주사전자현미경 광학현미경 광원 전자선(파장: 0.06Å~∞) 광원(파장: 2000~7500Å) 매질 진공중 대기중 렌즈 전자렌즈(PROBE축소) 광학렌즈(상확대) 분해능 일반 SEM ... Secondary electron Sample에 Scanning된 Electron beam은 sample과의 상호작용에 의해 신호발생영역이 형성되며 이것을 interaction volume

  리포트 | 23페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.06.19

  다운로드 장바구니
• 

  [반도체]열CVD 와 플라즈마CVD

  또한 다른 면으로는 초LSI로 대표되는 마이크론, 서브마이크론의 미세 가공으로 부M,ESCA 가시흡수단측정굴절률법 EPMA AES등 EPMA : electron probe microanalysis ... spectroscopy for chemical analysis SRP : spreading resistance probe 물 리 적 특 성 1 결정구조 X선화질 전자선회질(결정성) ... 고체의 증발은 전기적 가열 이외에 전자선(electron beam)이나 레이저 등이 쓰이는 경우도 있다.

  리포트 | 35페이지 | 4,000원 | 등록일 2003.01.10

  다운로드 장바구니