전전컴설계실험1-4주차예비

목차

1. 서론(Introduction)
1) 실험목적
2) 실험을 위해 필수 배경이론, 개념
3) 실험의 가설 및 근거

2. 방법(Materials and Methods)
1) 실험 도구 및 재료
2) 실험 절차와 방법

3. 실험결과(Result)
1) 측정 결과의 도식적 표현
2) 측정 결과의 설명

4. 토론(Discussion)
1) 실험의 가설과 일치 여부
2) 실험 측정 결과의 해석 및

5. 결론(Conclusion)

6. 참고문헌(References)

본문내용

1.Introduction.
(1)Purpose of this Lab
기초 장비실험에 이어 이번 실험에서는 다양한 소자를 이용하여 간단한 회로를 구현하고 Function generator와 Osciloscope를 이용함으로써 장비에 대한 깊이 있는 이해력을 가질 수 있도록 하는 것이 이번 실험의 목표이다.
(2)Essential Backgrounds for this Lab
- Function Generator, Osciloscope의 FFT기능과 SWEEP기능 사용법과 역할.
- Capacitor, Inductor, Diode를 사용한 회로 구성과 전기석 특성

<중 략>

RC 회로에서는 oscilloscope의 가로축(시간)을 측정 가능한 범위까지 최대한 줄여서 time constant를 측정할 때의 오차를 줄이고 각 소자의 오차율을 감안하여 실험을 설계한다.
RL 회로에서는 오차의 원인으로 inductor의 임피던스를 꼽았는데 임피던스는 교류전압일 때 발생하므로 직류전압을 사용하여 측정한 결과와 비교하여 두 결과가 다르다면 오차의 원인은 임피던스이고 같다면 무언가 다른 원인이 있던지 애초에 잘못된 가정을 했을 가능성도 있다.
다른 방법으로는 과도 상태에서 저항에 걸리는 전압을 측정하여 입력전압에서 빼주면 그 전압은 인덕터에 흐르는 전압이므로 간접적인 측정이 가능하다. 이렇게 측정한 값과 원래 측정된 값을 비교하여 잘못된 것을 찾을 수 있을 것이다.

참고 자료

http://ko.wikipedia.org/wiki/%EC%B6%95%EC%A0%84%EA%B8%B0
http://terms.naver.com/entry.nhn?cid=662&docId=363050&mobile&categoryId=2603
http://ko.wikipedia.org/wiki/%EC%BD%94%EC%9D%BC
http://ko.wikipedia.org/wiki/%EB%8B%A4%EC%9D%B4%EC%98%A4%EB%93%9C
TDS100B 및 TDS2000B 시리즈 디지털 스토리지 오실로스코프 사용설명서, Tektronix, inc
Agilent 33220A 20MHz 함수/임의 파형 발생기 사용설명서, Agilent Technologies,
전자전기컴퓨터 설계실험1 4주차 교안
회로이론 Basic Engineering Circuit Analysis 9th Edition, J. David Irwin & R. Mark Lelms, 2012, pp. 205 ~ 226