"AFM" 검색결과 1-20 / 707건

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  AFM 발표자료

  AFM 새별의 파워포인트 2017027023 정민교 2017027003 전세영 2017027039 이상민 목차 1 AFM 이란 ? ... Saebyeol’s PowerPoint Part 1 AFM 이란 ? ⓒSaebyeol Yu. Saebyeol’s PowerPoint AFM 이란 ? ... Part 1 AFM 구조 AFM : Atomic Force Microscope 의 약자로 탐침 (probe) 를 통해 스캔한다는 의미의 SPM(Scanning Probe Microscope

  리포트 | 28페이지 | 1,500원 | 등록일 2022.11.17

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  TEM, SEM, AFM

  AFM을 사용할 때에는 이런 시료의 전처리 과정이 필요 없다. 한편, AFM의 단점은 주로 압전 구동기의 특징에서 나타난다. ... 또한, AFM팁을 통해 시료에 힘을 가하면 시료의 분자나 원자이동이 가능하다. SEM을 사용하여 2차원 영상을 얻는 것과 비교하면, AFM의 영상은 3차원 영상이다. ... AFM의 분해능은 팁과 시료를 움직이는 압전 구동기(piezoelectric scanner, PZT)에 따라 결정된다.

  리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.09.07 | 수정일 2023.12.23

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  AFM 분석 결과 레포트

  ID & Name Purpose 용액을 spin coating 하는 방법을 습득하고, AFM을 이용하여 박막의 roughness를 측정한다. ... 또한, AFM 장비를 이용하여 ZnO 박막의 roughness를 여러 가지 다양한 이미지로 확인하여 본다. Result & Discussion 그림 1.

  리포트 | 1페이지 | 1,000원 | 등록일 2021.02.15

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  반도체 공정에서의 AFM 활용

  1. Introduction반도체가 고집적화, 미세화되면서, 5 나노 시대까지 도래하게 되었다. 컴퓨터부터 스마트폰, 인공지능까지 반도체가 적용되는 범위는 날로 확장되고 있다. 이러한 반도체의 성능에 가장 큰 영향을 주는 것은 반도체의 표면이다. 반도체의 표면이 결함이..

  리포트 | 4페이지 | 2,500원 | 등록일 2022.01.28

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  Surface characterization by AFM

  AFM(Atom Force MicroScope) 1) AFM의 특징 - ▲ AFM장치 및 원리원자간 힘의 측정 원리로 인해 측정표면이 도체이어야 한다는 STM의 한계를 극복하였다. ... 실험제목: Surface characterization by AFM 2. 실험일자: 2015년 5월 28일 목요일 3. ... 실험목적: 원자현미경의 종류 중 하나인 AFM의 특징과 원리를 이해하고, 이를 바탕으로 시료의 표면 분석을 수행한다. 4. 실험원리 A.

  리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.01.18 | 수정일 2023.01.12

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  AFM-발표 자료(PT)

  절연체는 측정하지 못하고 도체 혹은 반도체 측정에만 국한된다. 5) STM 단점 AFM ..PAGE:7 2. AFM 이란? ... 원리 AFM의 cantilever는 그 끝에서 날카로운 힘감지용 팁을 가지고 있으며 이 끝이 표면과 상호작용을 일으킨다. ... 쮜리히소재의 IBM 연구원이었던 Binning, Roher, Gerber와 Weibel에 의해 1982년에 개발 정의: STM (Scanning Tunneling Microscope)과 AFM

  리포트 | 23페이지 | 3,000원 | 등록일 2019.11.06

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  원자현미경 STM과 AFM의 이론 및 AFM 측정 실험보고서

  실험제목 AFM 실습 보고서 (Atomic Force Microscope) 과목명 나노 바이오 시스템 공학 실험 일자 2015년 11월 19일 조 이름 학번 담당 교수 AFM 실습 ... , 그 물리량에 따라 STM, AFM, FFM, SSM, SNOAM 등으로 구분된다. ... AFM의 3가지 모드 중 「tapping mode」를 이용하여 에칭된 Si을 측정하였다. 「실험 주의사항」 ?

  리포트 | 12페이지 | 4,900원 | 등록일 2020.12.16

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  Instrumental Analysis AFM 예비보고서

  실험 목적 (objective)- Atomic Force Microscope(AFM)의 원리를 이해한다.- AFM tip과 sample 사이 거리에 따른 Van der Waals force ... 변화와 다양한 스캔모드에 대해 배운다.- AFM noncontact mode를 사용하여 membrane sample의 roughness, surface Z height를 분석하는

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.08.31

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  Instrumental Analysis AFM 결과보고서

  AFM (Atomic force microscope)AFM 은 sample 과 cantilever 사이에 작용하는 van der waals force 를 이용하여 시료 표면의 roughness ... 또한 cantilever 와 sample 사이의 미세한 힘을 이용하기 때문에 측정 가능한 sample 이 도체에서 부도체로 확장되었다.AFM 은 크게 contact mode 와 non-contact

  리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2022.08.31

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  AFM 원리 및 실혐 결과 레포트

  AFM 원리 및 실혐 결과 레포트 1. ... of the cantilever, just as for AFM. ... AFM uses a "bi-cell" PSPD, divided into two halves, A and B.

  리포트 | 3페이지 | 3,000원 | 등록일 2019.11.06

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  전자현미경(TEM, SEM, AFM)에 대한 PPT

  AFM - 구조 Ref. 12) A tomic F orce M icroscope AFM - 원리 Ref. 13) 원자힘이라는 말이 시사하듯이 AFM 은 역학적 탐침 (mechanical ... About SEM, TEM, AFM 소속 이름 학번 INDEX 1 2 TEM - 개념 구조 - 원리 3 AFM - 개념 구조 - 원리 SEM - 개념 구조 - 원리 4 Reference ... CONCEPT AFM - 개념 Ref. 11) 분자내에 작용하는 미소한 힘을 측정하는 목적에도 사용된다 .

  리포트 | 20페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.05.25 | 수정일 2023.09.15

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  Atomic Force Microscope(AFM) 결과보고서

  AFM (Atomic Force Microscope)은 Scanning probe microscopy의 일종으로 AFM의 Probe는 시료표면을 따라가며 Probe와 표면사이에 작용하는 ... AFM의 탐침자는 Cantilever라고 불리는데, 이 Cantilever는 뾰족한 Tip을 끝에 가지고 있어 팁이 시료의 표면에 가까워지면 반데르발스 힘이 작용하여 Tip이 구부러진다

  리포트 | 4페이지 | 3,200원 | 등록일 2021.03.26 | 수정일 2022.10.20

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  SPM 현미경의 종류/원리/특징(STM,AFM

  SPM의 기본 원리(STM, AFM) ⅰ. ... AFM(Atomic Force Microscope) - SPM의 단점 보완(시편이 도체가 아니어도 됨) 접촉모드 AFM(원자사이의 척력 사용) ? ... 비접촉모드 AFM(원자사이의 인력 사용) ?원자간 인력의 크기는 너무 작아서 캔틸레버가 휘는 각도 변화를 직접 잴 수가 없다. ?

  리포트 | 2페이지 | 1,500원 | 등록일 2020.12.16

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  [고분자 화학] AFM을 이용한 ITO glass 분석

  AFM을 이용한 ITO glass 구조분석 Ⅰ. ... AFM에 사용되는 캔틸레버와 탐침의 SEM 사진. 오른쪽 사진은 탐침 부분을 확대한 것이다.? 그림 5. AFM의 모식도? ... Conclusion 지금까지 ITO와 관련된 내용, AFM의 구조와 원리를 간단히 소개하며 AFM을 통해 ITO로 코팅된 glass를 분석하였다.

  리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.08.22

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  SEM FTIR AFM 을 이용한 금나노 입자 분석 레포트

  FTIR, SEM, AFM을 이용한 금나노입자 (AuNP) 관찰 및 분석 Observation and Analysis of AuNPs by FTIR, SEM, AFM Materials ... 각각의 분석방법인 SEM, AFM, FTIR은 각기 다른 특징과 이점을 갖는다. ... Discussions 이번 실험은 합성된 금나노 입자를 SEM, AFM, FTIR을 이용하여 관찰하고 분석하는 실험이었다.

  리포트 | 3페이지 | 2,000원 | 등록일 2022.04.13 | 수정일 2022.05.20

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  AFM(원리, 접촉모드, 비접촉모드, 탬핑모드)

  목 차 나노 AFM 이란 ? 식각공정 ( Etching) 이란 ? ... 부분을 남겨두고 , 산화막의 나머지 부분을 제거하는 과정 ※ Etching 종류 건식 식각 (Dry etching) 식각공정 (Etching) 습식 식각 (Wet etching) AFM ... Atomic Force Microscope ( 원자현미경 ) 나노 미터급 원자단위 측정 STM 의 가장 큰 결점인 전기적으로 부도체인 시료는 볼 수 없다는 것을 해결 AFM 원리

  리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2020.07.09 | 수정일 2020.07.11

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  5 AFM

  STM의 가장 큰 결점은 전기적 으로 부도체인 시료를 볼 수 없다는 것인데, 이를 해결한 것이 AFM이다. Figure 1과 Figure 2는 AFM의 구조를 나타낸 그림이다. ... AFM에서는 마이크로머시닝 으로 제조된 Cantilever라고 불리는 작은 막대를 쓴다. ... lateral solution을 결정하기 때문에 AFM에 있어서 가장 중요한 요소 중의 하나이다.

  리포트 | 10페이지 | 3,000원 | 등록일 2018.04.03

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  표면/원소/전기적특성/광학 분석 장비 (AFM, SEM, TEM, FT-IR, XPS/UPS, Raman, CV, PL, Impedance, UV, Reflectance, Transmittance)

  ) 반면 AFM은 Atomic force microscope의 약자로 scanning probe microscopy(SPM)의 종류중 하나입니다. ... Surface Morphology: AFM, SEM, TEM 1) Electron Microscopy(TEM, SEM) Microscopy의 resolution 한계는 numerical ... AFM의 중요한 특징은 lateral 이미지와 동시에 vertical resolution을 얻을 수 있다는 장점을 가지고 있으며 lateral resolution은 0.1-3.0nm

  리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2019.08.21

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  afm

  IC-AFM의 경우는 NC-AFM과는 달리 탐침이 시료에 닿으므로 시료의 표면에 손상을 줄 수 있기 때문에NC-AFM을 이용하는 것이 바람직하다. Ⅲ. ... Intermittent-contact(IC) AFM은 NC-AFM과 비슷하지만 IC-AFM의 경우 진동하는 캔틸레버의 탐침이 시료표면에 거의 닿을 수 있도록 시료에 접근한다. ... AFM (Atomic Force Microscope) Ⅰ.

  리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.06.28

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  AFM

  LFM은 AFM의 경우와 마찬가지로 이러한 캔틸레버의 힘의 변화를 측정하기 위하여 포토다이오드를 이용한다. ... ▣ 실 험 제 목 : Atomic Force Microscopy ▣ 실 험 일 자 : 2009년 5월 8일 금요일 ▣ 실 험 목 적 : 원자현미경의 한 종류인 AFM의 원리를 이해하고 ... 액체표면위에서의 contact AFM 2) Non-Contact Mode - 이 모드는 Van der Waals Forces의 인력을 이용하기 때문에 원자 간의 인력의 크기가 매우

  리포트 | 24페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.05.29 | 수정일 2016.10.19

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