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"mim capacitor" 검색결과 1-20 / 24건

  • 워드파일 Post annealing effect of BaTiO3-based MIM capacitors for high capacitance 실험 레포트
    구조 및 원리 MIM (metal-insulator-metal) 캐패시터는 아날로그 RF 집적회로에서 매우 중요한 요소이다. ... 따라서 Ta2O5 (tantalumoxide), Al2O3 (alumina) 또는 HfO2 (hafnium oxide)등의 High-k 물질들이 MIM 캐패시터에 많이 사용 되어지고 ... 최근 scaledown으로 인한 추세에 맞게 더욱 더 작은 소자들의 면적이 요구되고 있으며 아날로그/RF 집적회로에 상당부분을 차지하고 있는 MIM 캐패시터의 면적 또한 축소의 필요성이
    리포트 | 5페이지 | 2,500원 | 등록일 2021.11.08
  • 파일확장자 ZrO2 MIM 캐패시터의 구조, 표면 형상 및 전기적 특성
    한국재료학회 김대규, 이종무
    논문 | 4페이지 | 3,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05
  • 워드파일 반도체공정 Report-3
    여기서MIS, MIM은 각각 metal-insulator-semiconductor, metal-insulator-metal 구조를 의미한다. ... DRAM의 고집적화가 진행될수록 cell 당 할당되는 면적은 감소하는 반면, 소자가 동작하기 위해 필요한 정전용량은 cell의 크기에 관계없이 25fF/cell 의 일정한 값을 유지해야 ... HfO2는 트랜지스터의 gate oxide의 후보 재료로서 많이 연구되어온 물질로 유전율은 약 20 - 25 정도로 비교적 낮은 값을 가지나 band gap이 5.7eV 정도로 비교적 크기
    리포트 | 15페이지 | 1,000원 | 등록일 2021.04.11
  • 파워포인트파일 차세대메모리 반도체(MRAM, PRAM, RRAM) 발표자료
    문제가 있다 • 비휘발성 특성의 신뢰성 부로 바꾸는 것 • 용융온도 이상으로 가열한 후 급랭 • n 에서 Off 상태로 변하며정보 기록 • 크게 0 에서 1 으로 바꾸는 것 • 크기가 ... 에 전류를 흘려 보낼 때를 ‘ 1’ 전류를 흘려 보내지 않을 때를 ‘ 0’ 으로 정해 데이터 값 을 정의 • 1 Cell = 1 Transistor + 1 Capacitor • 수십억 ... ) 구조 • MIM 구조의 비휘발성을 보이는 저항 스위칭 현상을 이용 ❖ 구조 ❖ 동작원리 • RRAM 의 모든 과정을 pulse 전압을 인가하며 작동 • 저항이 작은 상태를 on,
    리포트 | 20페이지 | 1,500원 | 등록일 2023.03.08
  • 한글파일 히타치하이테크 CS엔지니어 합격자소서 / 인증 有
    그 결과 입자의 크기, 실험 온도, 건조 기간이 방수성과 큰 연관이 있음을 알 수 있었습니다. ... ‘DRAM Capacitor의 전기적 특성’을 주제로 졸업논문을 작성하였습니다. ... 셋째, ‘DRAM Capacitor의 전기적 특성’ 논문리뷰를 작성하였습니다.
    자기소개서 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.07.14
  • 한글파일 ASML - 영문 자소서
    I wrote a graduation thesis on the subject of 'Electrical Characteristics of DRAM Capacitor by Al Doping ... Through Probe station, I could measure leakage current of MIM device and reveal the mechanism for reducing
    자기소개서 | 1페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.08.13
  • 한글파일 삼성전자 자소서
    셋째, ‘DRAM Capacitor의 전기적 특성’을 주제로 졸업논문을 작성하였습니다. ... 그 결과 입자의 크기, 실험 온도, 건조 기간이 방수성과 가장 큰 연관이 있음을 알 수 있었습니다. ... ALD를 사용하여 MIM 소자를 제작하고 Probe Station, XRD, XPS를 통해 소자의 특성을 평가해본 경험이 있습니다.
    자기소개서 | 4페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.08.13
  • 워드파일 [반도체 공정1] 1차 레포트 - ITRS 2005 PIDS
    결국 2006년 이후에는 Ta2O5와 Al2O3보다 k값이 훨씬 높은 MIM(Metal Instulator Metal) 구조와 유전 재료가 필요할 것으로 보인다. ... DRAM 스토리지 캐패시터는 스케일링에 따라 물리적으로 작아지기 때문에 EOT는 스케일링과 함께 적절한 스토리지 캐패시턴스를 유지하기 위해 급격하게 스케일다운해야 한다. ... 또한 고압 절연체의 물리적 두께는 최소 크기에 맞게 축소되어야 한다.
    리포트 | 27페이지 | 2,500원 | 등록일 2019.11.22
  • 한글파일 MLCC와 그 전망
    일반적으로 유전체로 알려진 절연체는 두 금속 층 사이의 전류 흐름을 막는 장벽의 역할을 하며 세 층의 조합은 축전기 구조의 전하 저장 특성을 가집니다. ... On chip and Embedded Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitor MIM(Metal-Insulator-Metal) capacitor의 구조는 ... 이 high-k 물질은 MIM 뿐만 아니라 여러 Capacitor의 분야에서 빠질 수 없는 중요한 요소입니다.
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.08.20
  • 워드파일 [반도체 공정 A+] High k(고유전체) 관련 레포트
    캐패시터MIM(Metal-Insulator-Metal) 구조를 갖는데, 전극간의 거리를 줄이면 Insulator층의 두께가 매우 얇아진다. ... 하나의 캐패시터로 구성되어 있으며, 비트 상태 값을 전하로 캐패시터에 저장한다. ... 반도체 공정 High-k dielectrics 레포트 제출일 : 2018년 00월 00일 00공학과 000 • Capacitors in DRAM DRAM은 셀이 하나의 트랜지스터와
    리포트 | 8페이지 | 3,500원 | 등록일 2018.12.07 | 수정일 2021.11.08
  • 한글파일 비휘발성 차세대 메모리
    특히 ReRAM은 간단한 구조, 나노 크기 소자제작, 단순한 공정 등의 장점이 있으므로 비휘발성 메모리 분야의 새로운 강자로 떠오를 가능성이 크다고 할 수 있습니다. ... 기존의 DRAM 공정은 1T-1C 구조의 cell를 이루고 있는데 capacitor공정의 난이도가 점점 더 올라가게 되어, 높은 수율을 가지는 DRAM cell의 제작이 점점 더 어려워지고 ... ReRAM (Resistance Random Access Memory) ReRAM 소자는 일반적으로 금속산화물을 이용한 MIM(Metal-Insulator-Meal) 구조로서 적당한
    리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.08.20
  • 한글파일 차세대 메모리 종류와 특징
    기존의 DRAM 공정은 1T-1C 구조의 cell를 이루고 있는데 capacitor공정의 난이도가 점점 더 올라가게 되어, 높은 수율을 가지는 DRAM cell의 제작이 점점 더 어려워지고 ... 즉, MIM 구조에서 두 전극 사이의 산화물을 통해 흐르는 전류는 defects가 위치한국부적 영역에 의해 제한됨을 알 수 있으며, 스위칭 및 메모리 특성이 전 있습니다. ... ReRAM (Resistance Random Access Memory) ReRAM 소자는 일반적으로 금속산화물을 이용한 MIM(Metal-Insulator-Meal) 구조로서 적당한
    리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.08.20
  • 파일확장자 TiN 기판 위에 성장시킨 비정질 BaSm2Ti4O12 박막의 구조 및 전기적 특성 연구
    한국재료학회 박용준, 백종후, 이영진, 정영훈, 남산
    논문 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05
  • 한글파일 RF sputtering
    그다음 유전막을 얹고 그 위에 Pt로 이루어진 상부전극을 접합하면 MIM capacitor가 만들어진다. ... MIM Capacitor a. Experimental procedure 먼저 Si를 깔고 그 위에 차례로 SIO2, Ti, Pt를 쌓아 기판을 만든다. ... 결정구조 및 격자상수 측정 ⑦ 결정의 배향성 조사 가능 ② 결정의 방향성 측정 ⑧ 결정내부의 변형조사 가능 ③ 물질의 정성분석 가능 ⑨ 혼합물과 화합물의 구별 가능 ④ 미소결정 크기
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.12.06
  • 파일확장자 Metal-Insulator-Metal 캐패시터의 응용을 위한 비정질 BaTi4O9 박막의 전기적 특성
    한국재료학회 홍경표, 정영훈, 남산, 이확주
    논문 | 6페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05
  • 파워포인트파일 DRAM에 관한 레포트입니다.
    대한 연구 ● Ta2O5를 고유전물질로 사용하고 Ru를 전극으로 활용(MIM구조) ⇒ 30nm~40nm의 기술노드에 적합 ● 유전율이 50~100인 SrTiO3 혹은 BST 고유전체와 ... DRAM - 구조 금속배선 Capacitor MOS소자 Oxide Poly Si 3. Capacitor란? ... Capacitor란? (1) CVD (2) ALD 5.
    리포트 | 18페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.11.12
  • 한글파일 MOScapacitor 제작 및 특성 분석
    Introduction of MOS capacitor The MOS capacitor consists of a Metal-Oxide-Semiconductor structure as ... To obtf MOS capacitor. Figure 7 shows the C-V curve of MOS capacitor using frequency 1Mhz. ... Figure 1 : The structure of MOS capacitor To understand the different bias modes of an MOS capacitor
    리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2008.11.27
  • 한글파일 ReRam,RRAM,저항메모리 기능과메카니즘
    기존의 DRAM 공정은 1-TR/1Capacitor 구조의 간위 Cell을 이루고 있는데 소자의 크기가 작아짐에 따라 Capacitor 공정의 난이도가 점점 더 올라가게 되어 높은 ... Ionic 효과에 의한 mim 소장의 저항변화는 이온의 이동 및 산화환원 반응을 통하여 구현할 수 있다. ... Nanoionics 기반 저항변화 메모리 (ReRAM) 3.1 개요 MIM(metal insulator metal) 구조를 가지는 다양한 시스템에서 전기적 입력에 의하여 스윗칭이라고
    리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2009.03.07
  • 파워포인트파일 DRAM&NAND
    SRAM 과의 비교 SKKU ① SRAM 보다 접근 속도는 느림 ②내부 회로 구조가 간단하여 집적도 ( 기억 밀도 ) 가 높음 . ( 같은 크기의 ... + 유전막으로써 SiO2/ SiNx 를 채용한 SIS → 상부 Si 전극계면에 생기는 저유전층 형성 막고자 M(metal)IS → 하부전극의 저유전층 형성도 막고자 MIM (2) ... Dram Capacitor SKKU a) 기울어짐 b) 쓰러짐 Dram Capacitor 구조의 변화 SKKU (1 ) 기존의 170nm 까지의 capacitor 상 하부 전극 poly-Si
    리포트 | 29페이지 | 1,500원 | 등록일 2008.11.09
  • 한글파일 RRAM 페로브스카이트 동작원리 Resistance Random Access Memory
    크기가 작아짐에 따라,capacitor공정의 난이도가 점점 더 올라가게 되어, 높은 수율을 가지는 DRAM cell의 제작이 매우 어렵게되는데 있으며 기존 DRAM을 대체할 수 있는 ... 즉, MIM구조에서 두 전극 사이의 산화물을 통해 흐르는 전류는 defects가 위치한 국부적영역에 의해 제한됨을 알 수 있으며, 스위칭 및 메모리 특성이 전류가 흐르는 paths의 ... 이러한 배경은 기존의 DRAM(dynamicrandom accessmemory)공정은 1-Transistor/1Capacitor(1T1R)구조의 단위cell을 이루고 있는데, 소자의
    리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.03.31
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2024년 06월 07일 금요일
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